Rasterelektronenmikroskopie (HREM)

Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (HREM/FESEM)

Mögliche Probenanalysen:

Neben der Untersuchung der Oberflächenstruktur von Proben als Rasterelektronenbild stehen diverse weitere Untersuchungsmethoden zur Verfügung.

• Bestimmung der Zusammensetzung von Proben mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX)
• Bestimmung von Materialkontrasten anhand von Rückstreuelektronen
• Bestimmung der kristallographischen Orientierung von Körnern in polykristallinen Proben mit Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
• in situ elektrochemische Experimente mit einem heizbaren Probermodul
• Transfer luftempfindlicher Proben in das HREM beispielsweise aus einer Schutzgasatmosphäre in einem Transfermodul
• Messung von nicht leitfähigen Proben mit Hilfe einer Ladungskompensation
• Präparation von Querschnitten in der Probenvorbereitung

Foto: Franz Möller / Physikalisch-Chemisches Institut Justus-Liebig-Universität Gießen