Unser Leistungsspektrum wird im Folgenden dargestellt:

  • Elektrochemische Charakterisierung von Materialien
  • Oberflächen- und Volumenanalytik mittels folgender Methoden:
    • Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (HREM) mit EDX- und EBSD-Detektoren
    • Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS), FIB- sowie diverse Sputterquellen für die Volumenanalytik verfügbar
    • Photoelektronenspektroskopie (XPS) mit UPS und Auger-Option
    • Röntgendiffraktometrie (XRD) an Pulvern, Einkristallen sowie dünnen Schichten
  • Erstellung von wissenschaftlichen Gutachten
  • Wissenschaftliche Beratung im Bereich Elektrochemie, Materialentwicklung für elektrochemischen Technologien und Korrosion
  • Projektdurchführung im Bereich elektrochemischer Fragestellungen

Foto: Franz Möller / Physikalisch-Chemisches Institut Justus-Liebig-Universität GießenFoto: Franz Möller / Physikalisch-Chemisches Institut Justus-Liebig-Universität Gießen